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礦石分析中X射線熒光光譜法的運用論文
引言
通常情況下，分析礦石的方法是化學法，使用最普遍的流程就是利用化學法對試樣進行處理，處理的順序不可倒置，最先熔融-水提-酸化-沉淀-進行分離，最后定容，這是實驗前的操作。對不同成分的分析方法多種多樣，有容量法、原子吸收法、分光光度法和離子體發射光譜法等。但是通過大量的實際應用，發現這些方法不能夠滿足需要，而 XRF 應其具備強大優勢，迅速廣泛應用在實際礦石分析中。
1 X 射線熒光光譜法在礦石成分分析中的應用
目前，X 射線光譜法經長期的實踐，已經健全它的分析成分體系，廣泛地應用于實際中。
1. 1 在鐵礦石分析中的應用
在國內，很多大型企業結合 XRF 自身特點進行研究，為了更好地測量鐵礦石中所含的一些元素，對科學來說，無疑是巨大的成功。眾所周知，馬鞍山鋼鐵股份有限公司，王必山作為集團科研帶頭人，利用玻璃熔片法在 2006 年取得了可喜的研究成果，經過實驗分析以 Co2O3作為內標，在鐵礦石里確定了TFe 的存在。根據化學法的比對，發現實驗誤差不到 0. 25% ,在測量 40% ~70%的范圍內。
1. 2 在錳礦石分析中的應用
蘇德法是石家莊市環保局長安區分局檢查大隊的一名成員，在 2005 年，他利用偏硼酸鋰和四硼酸鋰經混合后，制成熔劑后熔融制劑，利用 XRF 技術對錳礦石里的元素分別進行了檢測。有了前人的實踐成果，李曉莉后一年在天津地質礦產研究所里利用同樣方法，不同的是這次以 NH4I 為內標，再次用XRF 對錳礦里的各個元素進行檢測，并根據這些元素的不同主次量為依據實行測量，同樣取得了喜人的成果。作為國土資源部而言，研究礦石成分的任務更加艱巨，劉江斌利用粉末壓片法作為試樣，對錳礦試樣里的各成分進行測試。
1. 3 在鋁土礦分析中的應用
2005 年，王云霞等人在山東鋁業股份有限公司研究院理化檢測中心，把鋁土礦取出樣品，依然以氟化鋰作助熔劑和四硼酸鋰作熔劑，脫模劑使用碘化銨，制成可以抗高溫的玻璃熔片，使用 X 射線熒光光譜法測出鋁土礦的含量，這些含量構成的物質大多都是金屬氧化物。根據制成玻璃熔片的原理，劉江斌等人在國土資源部蘭州礦產資源監督檢驗中心制成樣品，此時鋁土礦里自身含有二氧化硅、三氧化二鋁、氧化鈣、三氧化二鐵、氧化鎂、氧化鈉、氧化鉀、五氧化二磷、氧化錳、二氧化鈦、銅、鎵和鉻物質，將它們這 13 種物質進行礦石分析。
1. 4 在銅礦石分析中的應用
2008 年，來自湛江市出入境檢驗檢疫局的田瓊使用同種制劑，利用 X 射線熒光光譜法對銅礦里的元素進行測定。2010年，中南大學化學化工學院的曹慧君等利用熔融法制取樣品，使用 X 射線熒光光譜法對銅礦石里的 Cu、Pb、S、Zn、Fe、As、SiO2、Mn、Al2O3、K2O、MgO、TiO2、CaO 等進行測定，測試結果非常滿意。2010 年，郭芬等人在天津出入境檢驗檢疫局里采取直接粉末壓片方法制取樣品，使用 X 射線熒光光譜法檢測銅精礦里 AS、SN、Pb 的數量。
2 XRF 在鐵礦測定中的其他應用
李升等人在 1999 年，測定鐵礦石內的成分，配置了體積比 2 ∶ 1的低稀釋溶液，使其在靈敏度有了巨大的提升，突出表現的是可以進行 S 含量測定。我國國內如果要替代 4 倍價錢的進口熔融爐就得拿國產 6 頭熔融爐熔樣來進行替換，想要取得同樣的效果，這樣可以大大地節約成本。肖剛毅等人測定鐵精礦里的 Si、K、S 和 TFe 的含量，采用國產型號為IED - 2000P 的 XRF 快速分析儀，聯合經驗系數法和特散比法相結合，達到修正基體的效果，實行的工作順序是采取特散比法特有的吸收效應對輕元素進行修正，然后再利用經驗系數法的吸收效應，修正 Ca 對 Fe 的吸收效果。以體現 S、Si、K 等元素的增強效果，利用 XRF 就可以快速分析出結果。
2008 年，耿剛強利用粉末壓片和熔融玻璃片制取樣本，利用X 射線熒光光譜儀分析方法確定 CaO、TFe、MgO、Al2O3、SiO2、S、Cu、P 這些組成成分。
3 結語
根據長期對礦石成分的分析研究，我們知道，對于 X 射線熒光光譜法而言，使用這種方法不僅提高了測定的準確度、精度，實現了更高要求的體現，在節省成本的情況下，還可以分析迅速，未對環境造成重大影響的前提下，完成了礦石成分的分析。以此它成為了主流。在實際的操作中，對于礦石的樣品測定，快速分析的優勢非常明顯。對于很多的礦物成分的測定我們都是未知的，只有采取科學的方法，不斷地發現，才能夠尋覓出新的科技之路。X 射線熒光光譜法不同于化學法，它的優勢適應于實際的生產需要，能夠為企業創造更大的價值。此外，因為 X 射線熒光光譜的問世，將會激發人們對 X 射線熒光技術的不斷革新。XRF 技術的發展是我國鐵礦新的里程碑，隨著它自身的方便快捷、以及可進行多元素測定的優勢，在現行的鐵礦分析過程中發展迅速，它可以隨時提供鐵礦石里的主量元素、有害元素和半生元素的含量顯示。隨著科技的不斷發展，未來 X 射線熒光光譜法將得到更長足的發展。
參考文獻：
[1] 趙志飛，儲溱，向兆，等。 電感耦合等離子體質譜法同時測定礦石中鎢鉬銅[J]. 冶金分析，2012,32（ 3） :20 -24.
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